主營(yíng)產(chǎn)品：分光光度計，紫外可見(jiàn)分光光度計
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一、雜散光的重要性
雜散光是紫外可見(jiàn)分光光度計非常重要的關(guān)鍵技術(shù)指標。它是紫外可見(jiàn)分光光度計分析誤差的主要來(lái)源, 它直接限制被分析測試樣品濃度的上限。當一臺紫外可見(jiàn)分光光度計的雜散光一定時(shí), 被分析的試樣濃度越大, 其分析誤差就越大。astm 認為: “雜散光可能是光譜測量中主要誤差的來(lái)源。尤其對高濃度的分析測試時(shí), 雜散光更加重要”。有文獻報道, 在紫外可見(jiàn)光區的吸收光譜分析中, 若儀器有1%的雜散光, 則對2. 0a 的樣品測試時(shí), 會(huì )引起2%的分析誤差時(shí), 說(shuō)明儀器中有這種雜散光存在。但必須注意, 當儀器存在零點(diǎn)誤差時(shí), 有可能造成混淆。如果在不透明的樣品上涂上白色, 則可增加樣品本身反射和散射的效果, 可以提高測量靈敏度。第二種形式是指測試波長(cháng)以外的、偏離正常光路而到達光電轉換器的光線(xiàn)。它通常是由光學(xué)系統的某些缺陷所引起的。如光學(xué)元件的表面被擦傷、儀器的光學(xué)系統設計不好、機械零部件加工不良, 使光路位置錯移等。
雜散光對分析測試結果的誤差影響是隨著(zhù)吸光度值增大而增大的。因此,吸光度值越大, 對誤差的影響也越大。
二、雜散光的來(lái)源
產(chǎn)生雜散光的原因很多, 其主要的原因大致有以下9 個(gè)方面:
① 灰塵沾污光學(xué)元件( 如光柵、棱鏡、透鏡、反射鏡、濾光片等)。
② 光學(xué)元件被損傷, 或光學(xué)元件產(chǎn)生的其他缺陷( 如光柵、透鏡、反射鏡、棱鏡材料中的氣泡等)。
③ 準直系統內部或有關(guān)隔板邊緣的反射。
④ 光學(xué)系統屏蔽不好。
⑤ 熱輻射或熒光引起的二次電子發(fā)射。
⑥ 狹縫的缺陷。
⑦ 光束孔徑不匹配。
⑧ 光學(xué)系統的像差。
⑨ 單色器內壁黑化處理不當。
以上9 個(gè)方面中, 光柵是雜散光的主要來(lái)源。它產(chǎn)生的雜散光占總雜散光的80%以上。
三、雜散光的測試方法
目前, 測試雜散光常用的方法是所謂“ 截止濾光法” ( t he cut off filtermethod) 或稱(chēng)作“ 濾光片法” ( the filte r method) 。主要是采用濾光片或濾光液來(lái)測試紫外可見(jiàn)分光光度計的雜散光。有時(shí)也采用he-ne 激光器的632. 8nm 來(lái)測試雜散光。具體做法是在離632. 8nm±5nm 處進(jìn)行測試, 測出的數值與632. 8nm 相比就是雜散光。“截止濾光法” 的具體測試方法: 儀器冷態(tài)開(kāi)機, 預熱0. 5h , 如用“濾光片法” 測試, 則參比為空氣; 如用濾光液來(lái)測試, 則參比為溶劑(若用nai、nano2 水溶液, 則參比為蒸餾水)。設置儀器的縱坐標為% t , 橫坐標為波長(cháng) nm) , 用濾光液時(shí), 試樣比色皿中裝濾光液, 參比比色皿中裝溶解液, 將波長(cháng)調到相應的波長(cháng)上( nai 為220nm、nano2 為340nm) 進(jìn)行測試。
上海析譜儀器研發(fā)生產(chǎn)的儀器采用高性能紫外鍍膜鏡片，
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